元器件熱沖擊試驗(yàn)箱

簡(jiǎn)要描述：元器件熱沖擊試驗(yàn)箱適用于質(zhì)量控制的實(shí)驗(yàn)室，確定電工電子產(chǎn)品在貯存、運(yùn)輸和使用期間可能遇到的溫度迅速變化的條件下的適應(yīng)性，又可滿足生產(chǎn)過程中篩選商用產(chǎn)品。適用的對(duì)象包括金屬，塑料，橡膠，電子、LED、LCD、通訊組件、汽車配件、化學(xué)材料、航天、國(guó)防工業(yè)、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶瓷及高分子材料等行業(yè)，可作為其產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考。

產(chǎn)品型號(hào)AP-CJ
廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間2024-11-07
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冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)

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品牌	愛佩科技/APKJ	價(jià)格區(qū)間	面議
產(chǎn)地類別	國(guó)產(chǎn)

元器件熱沖擊試驗(yàn)箱適用于質(zhì)量控制的實(shí)驗(yàn)室，確定電工電子產(chǎn)品在貯存、運(yùn)輸和使用期間可能遇到的溫度迅速變化的條件下的適應(yīng)性，又可滿足生產(chǎn)過程中篩選商用產(chǎn)品。適用的對(duì)象包括金屬，塑料，橡膠，電子、LED、LCD、通訊組件、汽車配件、化學(xué)材料、航天、國(guó)防工業(yè)、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶瓷及高分子材料等行業(yè)，可作為其產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考。
元器件熱沖擊試驗(yàn)箱滿足以下標(biāo)準(zhǔn)：
.GB/T2423.1-2008 低溫試驗(yàn)方法
·GB/T2423.2-2008 高溫試驗(yàn)方法
·GB/T2423.22-2012 溫度變化試驗(yàn)
·GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn)
·GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn)
·GJB367.2-87溫度沖擊試驗(yàn)
·QC/T17-92、EIA364-32、IEC68-2-14等
主要技術(shù)：
型號(hào)尺寸：(除了以下標(biāo)準(zhǔn)尺寸我司還可為大家定制非標(biāo)尺寸）
AP-CJ-50A/B/C內(nèi)箱尺寸：350×350×400外箱尺寸：1560×1750×1440
AP-CJ-80A/B/C內(nèi)箱尺寸：500×400×400外箱尺寸：1700×1800×1440
AP-CJ-100A/B/C內(nèi)箱尺寸：600×400×400外箱尺寸：1800×1800×1440
AP-CJ-150A/B/C內(nèi)箱尺寸：600×500×500外箱尺寸：1800×1900×1540
AP-CJ-250A/B/C內(nèi)箱尺寸：700×600×600外箱尺寸：1900×2000×1640
AP-CJ-480A/B/C內(nèi)箱尺寸：800×800×750外箱尺寸：2020×2250×2150
試驗(yàn)溫度范圍：A表示：-40℃～+150℃
B表示：-55℃～+150℃
C表示：-65℃～+150℃
溫度波動(dòng)度： ±0.5℃
溫度均勻度: ±2.0℃
溫度均勻:±2℃;
升溫速率:≤5℃/min；（全程平均）
降溫速率:≤5℃/min；；（全程平均）
預(yù)冷下限溫度:≤-50℃;
控制器：進(jìn)口LED數(shù)顯（P.I.D + S.S.R.）微電腦集成控制器
精度范圍：設(shè)定精度：溫度±0.1℃，指示精度：溫度±0.1℃，解析度：±0.1℃
制冷系統(tǒng)：進(jìn)口谷輪半封閉水冷式壓縮機(jī)組/原裝“泰康”全封閉風(fēng)冷復(fù)迭壓縮制冷
循環(huán)系統(tǒng)：耐溫低噪音空調(diào)型電機(jī).多葉式離心風(fēng)輪
用歐美外觀質(zhì)感高水準(zhǔn)，全系列愛佩7寸大屏真彩觸摸屏控制器,操作簡(jiǎn)單,程序直觀，還可單獨(dú)做高溫、低溫試驗(yàn)。更多參數(shù)請(qǐng)業(yè)務(wù)曹（）為您服務(wù)。

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